[发明专利]光盘片弯曲试验装置无效
| 申请号： | 200410069928.1 | 申请日： | 2004-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN1724992A | 公开（公告）日： | 2006-01-25 |
| 发明（设计）人： | 赖昭平;潘亭妤;王茂贵 | 申请（专利权）人： | 精碟科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/20 | 分类号： | G01N3/20 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 文琦;陈肖梅 |
| 地址： | 台湾省台北*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种光盘片弯曲试验装置，其检测一劣质光盘片，且包括一基座、一施力盖以及至少一第一定位元件。其中，基座具有一凹槽，凹槽自基座的一表面凹设，光盘片放置于凹槽上；施力盖具有一突出部，突出部连接于施力盖的一表面，光盘片通过施力盖的突出部而将其压入凹槽成一弯曲角度；第一定位元件设置于基座的该表面上，第一定位元件与施力盖触接，以使施力盖的突出部相对位于该凹槽的开口位置。本发明是利用一简单的机械结构对待检测的光盘片进行弯曲试验，可以让操作者以均匀施力来检测出劣质的光盘片。 | ||
| 搜索关键词： | 盘片 弯曲 试验装置 | ||
【主权项】：
1.一种光盘片弯曲试验装置，其检测一劣质光盘片，其特征在于，包含：一基座，其具有一凹槽，该凹槽自该基座的一表面凹设，该光盘片放置于该凹槽上；一施力盖，其具有一突出部，该突出部连接于该施力盖的一表面，该光盘片通过该施力盖的突出部而将其压入该凹槽成一弯曲角度；以及至少一第一定位元件，其设置于该基座的该表面上，该第一定位元件与该施力盖触接，以使该施力盖的突出部相对位于该凹槽的开口位置。
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