[发明专利]读/编程电位发生电路无效
| 申请号： | 200410069980.7 | 申请日： | 2004-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN1577800A | 公开（公告）日： | 2005-02-09 |
| 发明（设计）人： | 今井公正 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | H01L21/82 | 分类号： | H01L21/82;H01L21/768 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 包于俊 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 电源接通时，利用VBP发生电路(Power－ON)发生读电位。将该读电位作为VBP加到程序元件，并检测程序元件的状态。读电位例如由逻辑电源电位生成。编程时，利用VBP发生电路(Program)发生编程电位。编程电位例如从芯片外部供给，作为VBP加到程序元件。在输出读/编程电位期间，对阻挡晶体管的栅极供给VBT例如电源电位。 | ||
| 搜索关键词： | 编程 电位 发生 电路 | ||
【主权项】：
1.一种读/编程电位发生电路，其特征在于，具备：发生对熔断元件编程所必要的编程电位的第1电位发生电路、发生为了对所述熔断元件检查其状态所必要的读电位的第2电位发生电路，所述读电位的值低于所述编程电位的值。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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