[发明专利]声表面波元件、声表面波设备、声表面波双工器和声表面波元件制造方法无效

专利信息
申请号: 200410070944.2 申请日: 2004-07-16
公开(公告)号: CN1578131A 公开(公告)日: 2005-02-09
发明(设计)人: 中野正洋;苏武正树;大塚滋树;加贺谷康永 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: H03H9/25 分类号: H03H9/25;H03H9/64;H03H3/08
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一个声表面波元件12包括一个由压电衬底上形成的单晶体铝组成的薄膜电极。由单晶体铝所组成的薄膜电极18中可分离出Cu,Ta,W和Ti等金属中的至少一种。在这个声表面波元件12中,Cu或类似的发生在薄膜电极18中。这样的分离有效g地减少在倒装片安装的超声波连接过程中压电衬底28上裂纹的出现。就是说,由于压电衬底28上裂纹的出现被减少,所以有利地提高了声表面波元件12中经受超声波振动的容许度。
搜索关键词: 表面波 元件 设备 双工器 和声 制造 方法
【主权项】:
1.一种声表面波元件,它包括一个置于压电衬底上的由单晶体铝组成的薄膜电极,其中Cu、Ta、W和Ti中的至少一种金属在由单晶体铝组成的所述薄膜电极中分离出来。
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