[发明专利]在气体环境中执行曝光处理的基片处理系统无效
申请号: | 200410071265.7 | 申请日: | 2002-08-28 |
公开(公告)号: | CN1555085A | 公开(公告)日: | 2004-12-15 |
发明(设计)人: | 城户秀作;饭尾善秀;池田雅树 | 申请(专利权)人: | NEC液晶技术株式会社 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱进桂 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种能够将曝光处理气体喷向设置在小室中的基片上的基片处理系统。小室用来在通过蒸发有机溶剂溶液获得的气体环境中执行在基片表面上形成有机薄膜的曝光处理,以便溶解和回流有机薄膜。基片处理系统包括:具有至少一个进气口和至少一个出气口的小室;将曝光处理气体由进气口导入小室的气体导入装置;和气体分配装置。气体分配装置将小室的内部空间分成曝光气体经过进气口进入的第一空间和设置基片的第二空间。气体分配装置具有多个开口,通过开口第一空间和第二空间相互连通;和气体分配装置将导入第一空间的曝光气体经过开口导入第二空间。 | ||
搜索关键词: | 气体 环境 执行 曝光 处理 系统 | ||
【主权项】:
1.一种将曝光处理气体喷向设置在小室中的基片上的基片处理系统,所述的基片处理系统包括:具有至少一个进气口和至少一个出气口的小室;经过进气口将曝光处理气体导入所述小室中的气体导入装置;和气体分配装置;其中所述气体分配装置将所述小室的内部空间分成经过进气口导入曝光处理气体的第一空间和设置基片的第二空间;所述气体分配装置具有多个开口,所述第一空间和第二空间通过所述的开口彼此连通;经过所述开口,所述气体分配装置将导入第一空间的曝光处理气体导入所述第二空间;以及所述的气体分配装置包括弯曲的盘状部件,其向着所述的基片凸出或者凹进。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造