[发明专利]发光装置及其形成方法无效

专利信息
申请号: 200410071482.6 申请日: 2004-05-14
公开(公告)号: CN1575064A 公开(公告)日: 2005-02-02
发明(设计)人: 内海彻哉;有马正彰;原田昌幸;舟田真理 申请(专利权)人: 株式会社丰田自动织机
主分类号: H05B33/12 分类号: H05B33/12;H05B33/22;H05B33/02;H05B33/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 邹光新;张志醒
地址: 日本爱知*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在发光装置中,在其上形成发光器件的衬底的面是具有多个粗糙点的非平坦表面。该中相邻的粗糙点的平均间隔Sm或者粗糙点的相邻凸起的峰的平均间隔S不小于由发光层产生的光的最长波长的三倍,并且不大于该最长波长的两百倍。该非平坦表面的算术平均斜率Δa是在4°和30°之间的范围内,包括4°和30°。因此,与没有非平坦表面的发光装置相比,该装置基本上从光提取侧发出更大数量的光,并且具有较小的亮度不均匀性。
搜索关键词: 发光 装置 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种发光装置,包括衬底和设置在衬底上的发光器件,该装置的特征在于:该器件包括位于一对电极之间的发光层,在其上形成发光器件的衬底的面是具有多个粗糙点的非平坦表面,相邻粗糙点的平均间隔Sm或者粗糙点的相邻凸起的峰的平均间隔S不小于由发光层产生的光的最长波长的三倍,并且不大于该最长波长的两百倍,其中要满足下列要求(i)-(vi)中的至少一个要求:(i)该非平坦表面的算术平均斜率Δa是在4°和30°之间的范围内,包括4°和30°;(ii)该非平坦表面的均方根斜率Δq是在4°和35°之间的范围内;(iii)该非平坦表面的算术平均粗糙度Ra与粗糙点的平均间隔Sm的比值Ra/Sm是在0.008和0.09之间的范围内,包括0.008和0.09;(iv)算术平均粗糙度Ra与峰的平均间隔S的比值Ra/S是在0.009和0.10之间的范围内,包括0.009和0.10;(v)该非平坦表面的不规则性的十点高度Rz与粗糙点的平均间隔Sm的比值Rz/Sm是在0.05和0.22之间的范围内,包括0.05和0.22;和(vi)不规则性的十点高度Rz与峰的平均间隔S的比值Rz/S是在0.05和0.25之间的范围内,包括0.05和0.25。
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