[发明专利]倾斜检测装置,光盘装置和倾斜控制方法无效
申请号: | 200410076805.0 | 申请日: | 1999-07-13 |
公开(公告)号: | CN1598939A | 公开(公告)日: | 2005-03-23 |
发明(设计)人: | 中村敦史;东海林卫;石田隆 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B7/013 | 分类号: | G11B7/013;G11B7/09;G11B7/095 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王玮 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种倾斜检测装置检测光盘表面关于光束光轴的倾斜(倾角)。该装置具有光头,用于将光束照射在光盘上;光探测器,用于接收光盘反射的光;以及倾斜检测器,用于利用光探测器的信号输出检测光盘记录表面关于光束光轴的倾斜。 | ||
搜索关键词: | 倾斜 检测 装置 光盘 控制 方法 | ||
【主权项】:
1.一种倾斜检测装置,用以检测光盘记录表面的倾斜,所述光盘具有连续的磁迹和所形成的第一种偏移凹坑及第二种偏移凹坑,所述凹坑被形成使得该第一种偏移凹坑和第二种偏移凹坑以正交方式分别从一条磁迹的中心线相对于该磁迹的第一侧和第二侧偏移,所述连续磁迹沿着所述中心线位于第二种与第一种偏移凹坑之间,所述倾斜检测装置包括:光头,用于通过将光斑聚焦在所述光盘上切实地记录和重放信号;二隙光探测器,用于切实地接收从所述光盘反射的光,所述光探测器包括沿与磁迹平行方向定向的第一和第二光探测元件,使所述二隙光探测器分开;跟踪控制机构,用以控制所述光斑在所述连续磁迹上的位置;偏离磁迹检测机构,用于根据由所述二隙光探测器从相对于所述第一种偏移凹坑和第二种偏移凹坑沿着磁迹移动的所述光头得到的重放信号检测光斑的磁迹偏离量;倾斜检测机构,在通过控制所述跟踪控制机构和偏离磁迹检测机构而使光斑实际上位于连续磁迹中心的同时,在由所述二隙光探测器接收从所述连续磁迹反射的光的情况下,通过比较从所述第一和第二光探测元件输出的信号,检测光盘记录表面关于光束的光轴的倾斜,以得到表示所述记录表面倾斜的推挽信号。
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