[发明专利]光盘驱动器机壳结构安全性测试的方法及其使用的测试用光盘片无效

专利信息
申请号: 200410078758.3 申请日: 2004-09-16
公开(公告)号: CN1749731A 公开(公告)日: 2006-03-22
发明(设计)人: 方昭清 申请(专利权)人: 华硕电脑股份有限公司
主分类号: G01N3/00 分类号: G01N3/00;G11B33/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 任永武
地址: 台湾省台北市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种测试光盘驱动器机壳结构安全性的方法,是在所使用的测试用光盘片上制作三个径向裂纹,而各裂纹间的夹角为120度。将此测试用光盘片放入待测的光盘驱动器后,启动光盘驱动器使测试用光盘片以预设的转速旋转,造成光盘片径向裂纹成长而产生裂片撞击光盘驱动器机壳。随后,再检视光盘驱动器机壳承受到的撞击状态。
搜索关键词: 光盘驱动器 机壳 结构 安全性 测试 方法 及其 使用 用光 盘片
【主权项】:
1.一种光盘片,用于光盘片高速旋转的爆片测试,该光盘片制作有三个径向裂纹,各裂纹间的夹角是介于100度与140度之间,借以使旋转破碎后的裂片具有最大的动量。
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