[发明专利]集成电路输出信号检查方法及装置有效
| 申请号： | 200410078993.0 | 申请日： | 2004-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN1591697A | 公开（公告）日： | 2005-03-09 |
| 发明（设计）人： | P·比尔;A·施拉姆;M·维森 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G01R31/3181 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张志醒 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路输出信号检查方法及装置。提供一种用于使检查信号是否通过一根据预先定义规格的集成电路的一写入电路输出成为可能的装置与方法。就此而言，该系统所固有的一外部测试装置的高精确性被使用于检查一模块中该集成电路的一数据信号与一数据采样信号是否根据一规格而被输出。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 输出 信号 检查 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于检查信号是否通过一根据预先定义规格的集成电路的一写入电路(6，8)输出的方法；其中所使用的一第一数据信号与一关联之第二信号彼此间具有一时序关系；其中该规格定义了该第一数据信号与该第二数据信号间的一时间偏移极限值，在此该第一数据信号被正确读取；其中该集成电路具有一读取电路(5)，用以读取所述信号；其中该集成电路具有至少二终端(2，3)，其用于施加该第一与该第二数据信号；以及其中各该终端(2，3)连接至该写入电路(6，8)与该读取电路(5)；该方法包含下列步骤：a)在分别指定之终端(2，3)处提供一外部第一标准化数据信号与一关联之外部第二标准化数据信号，该外部第一标准化数据信号与该外部第二标准化数据信号以彼此间所具有之根据一时间偏移极限值之时序上的一偏移量而被传导至该读取电路(5)，以及b)检查该读取电路(5)是否正确读出该第一标准化数据信号。
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