[发明专利]放射线断层造影设备及其放射线断层造影方法无效

专利信息
申请号: 200410079109.5 申请日: 2004-09-08
公开(公告)号: CN1593341A 公开(公告)日: 2005-03-16
发明(设计)人: 乡野诚;贯井正健 申请(专利权)人: GE医疗系统环球技术有限公司
主分类号: A61B6/02 分类号: A61B6/02;A61B6/03;G01N23/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯;张志醒
地址: 美国威*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明旨在防止因串扰而导致的断层造影图像对比度的下降和伪像的出现,并且提高断层造影图像的质量。检测数据经过拟合处理,采用的方式是,在设置成彼此相邻的多个X射线检测模块中设置成阵列形式的X射线检测元件检测的X射线所产生的数据中,靠近多个X射线检测模块之间边界的X射线检测元件检测的X射线所产生的第一检测数据适合基于位于相邻X射线检测元件周围的X射线检测元件检测的X射线所产生的第二检测数据的波形数据。
搜索关键词: 放射线 断层 造影 设备 及其 方法
【主权项】:
1.一种放射线断层造影设备,包括:放射线照射装置,用于采用放射线来照射待成像的受检者的成像区;放射线检测装置,具有第一和第二放射线检测模块,其中检测透过所述受检者的所述成像区的放射线的放射线检测元件设置成阵列形式,所述第一和第二放射线检测模块设置成彼此相邻;以及拟合处理装置,用于对检测数据进行拟合处理,采用的方式是,在所述放射线检测装置检测的放射线所产生的检测数据中,与靠近所述第一与第二放射线检测模块之间边界的放射线检测元件对应的第一组放射线检测元件检测的放射线所产生的第一检测数据适合基于与位于所述第一组放射线检测元件周围的放射线检测元件对应的第二组放射线检测元件检测的放射线所产生的第二检测数据的波形数据。
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