[发明专利]半导体集成电路装置操作分析方法和系统及最优设计方法无效

专利信息
申请号: 200410079416.3 申请日: 2004-06-09
公开(公告)号: CN1574289A 公开(公告)日: 2005-02-02
发明(设计)人: 岛崎健二;佐藤和弘;一宫敬弘;岩西信房;雨河直树;平田正明;平野将三 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L21/82 分类号: H01L21/82
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 王志森;黄小临
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明包括:基于电路信息通过计算电源端的一个半导体集成电路的每个实例的电压波形并且分析每个实例的电压波形,从而形成电压波形信息的步骤,通过抽象电压波形信息来形成电压抽象信息的步骤,以及基于电压抽象信息来计算实例的一个延迟值的步骤。
搜索关键词: 半导体 集成电路 装置 操作 分析 方法 系统 最优设计
【主权项】:
1.一种用于半导体集成电路装置的操作分析方法,包括步骤:通过基于一个半导体集成电路装置的电路信息,计算在电源端上该半导体集成电路的每个实例的电压波形,并且分析每个实例的电压波形,以便形成电压波形信息;通过抽象该电压波形信息,形成电压抽象信息;并且基于该电压抽象信息计算该实例的一个延迟值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410079416.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top