[发明专利]调试电路无效
| 申请号： | 200410079702.X | 申请日： | 2004-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN1598608A | 公开（公告）日： | 2005-03-23 |
| 发明（设计）人： | 上田泰志;岡崎诚 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3177;G06F11/22 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李德山 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种调试电路，在变换块(140)中，把由选择块(120)输出的异常的原因解析中认为有效的多个内部信号，用从时间生成块(130)输出的信号进行栓锁，并变换为串行数据输出到输出块(150)，因此，可以用少量的外部管脚观测LSI内部的多个信号，可以迅速并且可靠地执行LSI的动作异常的解析。 | ||
| 搜索关键词： | 调试 电路 | ||
【主权项】：
1.一种调试电路，调试包含实现所希望逻辑功能的逻辑电路的LSI的功能，其特征在于：包括：从由上述逻辑电路输出的多个时间信号或者多个状态信号中选择规定的信号来进行输出的选择块；从由上述逻辑电路输出的多个基准信号中选择规定的基准信号的时间生成块；把由上述选择块选择的规定信号用从上述时间生成块输出的基准信号的时间来进行并行串行变换，并输出变换后的串行信号的变换块；和把从上述变换块输出的串行信号输出到外部的输出块。
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