[发明专利]一种探测器-光纤耦合的全方位自对准方法无效
申请号: | 200410081325.3 | 申请日: | 2004-11-25 |
公开(公告)号: | CN1779418A | 公开(公告)日: | 2006-05-31 |
发明(设计)人: | 叶玉堂;刘霖;吴云峰;赵素英;杨先明;范超;王昱琳 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01D5/26 | 分类号: | G01D5/26;G01D18/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610054四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提出了一种探测器-光纤耦合的全方位自对准方法,它是利用激光辅助腐蚀技术在半导体衬底背面生成腐蚀孔,制作圆孔型探测器。光纤插入圆孔中,即与正面的探测器光敏面精确对准,实现探测器-光纤全方位自对准耦合,不仅提高尾纤-探测器组件中的耦合效率,从而提高光纤系统性能,而且耦合工艺简单,封装过程难度低,又能避免固化时和封装后光纤与探测器间的相对偏移。制作圆孔时,利用抗蚀膜掩蔽技术控制腐蚀孔径的形状和大小,可避免激光聚焦所带来的诸多问题,简化流程,降低实际生产的复杂程度和人力资源成本,适合于推广应用。 | ||
搜索关键词: | 一种 探测器 光纤 耦合 全方位 对准 方法 | ||
【主权项】:
1、一种探测器-光纤耦合的全方位自对准方法,其特征是它采用下面的步骤:步骤1准备好半导体衬底(1),确定半导体衬底(1)正面光敏面(6)的位置,半导体衬底(1)正面光敏面(6)的位置对应的半导体衬底(1)背面的位置就是腐蚀圆孔(4)的位置,即背面光纤光入射的位置;并确定探测器与光纤之间实现耦合的腐蚀圆孔(4)的直径大小,腐蚀圆孔(4)的直径略大于光纤(3)的直径,腐蚀圆孔(4)的直径和深度以光纤(3)插入腐蚀圆孔(4)后不移位为准;步骤2用抗蚀膜(5)把半导体衬底(1)背面除了腐蚀圆孔(4)以外的区域掩蔽好;步骤3将覆盖有抗蚀膜(5)的半导体衬底(1)置于腐蚀液或者腐蚀气体中,在激光(7)作用下实现激光腐蚀,形成孔径与光纤直径大小匹配的腐蚀圆孔(4);步骤4将光纤(3)插入步骤3制备的腐蚀圆孔(4)内,实现与正面的光敏面(6)精确对准。
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