[发明专利]改善自聚焦透镜折射率分布的新方法无效
申请号: | 200410081522.5 | 申请日: | 2004-12-14 |
公开(公告)号: | CN1790061A | 公开(公告)日: | 2006-06-21 |
发明(设计)人: | 刘德森;郎贤礼;周自刚;蒋小平;刘晓东 | 申请(专利权)人: | 西南师范大学 |
主分类号: | G02B3/00 | 分类号: | G02B3/00 |
代理公司: | 重庆华科专利事务所 | 代理人: | 徐先禄 |
地址: | 40071*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 本发明涉及改善自聚焦透镜折射率分布的新方法,包括以下步骤:将一次离子交换后的玻璃丝横向切割成薄片样品,在沙敏干涉仪上采用薄片干涉法对样品进行测量,得到折射率数值和折射率分布曲线;当高于理想折射率分布曲线、出现负球差和桶形畸变时,二次离子交换采用的熔盐为3%- 6%NaNO3和97%-94%KNO3的混合盐;当底于理想折射率分布曲线、出现正球差和枕形畸变时,二次离子交换采用的熔盐为3%-6%Tl2SO4和97%-94%KNO3的混合盐,离子交换温度控制在530℃±0.5℃,离子交换的时间控制在20-30分钟以内。还包括二次离子交换后进行热处理。本发明可以很好的改善自聚焦透镜边部的折射率分布,使之更接近理想折射率分布,明显地改善像差,提高自聚焦透镜的质量。 | ||
搜索关键词: | 改善 自聚焦 透镜 折射率 分布 新方法 | ||
【主权项】:
1、改善自聚焦透镜折射率分布的新方法,包括以下步骤:a.采用薄片干涉法测量自聚焦透镜的折射率分布;首先将一次离子交换后的玻璃丝横向切割成薄片样品,并将样品两面进行研磨和抛光,使样品厚度小于0.3mm;在沙敏干涉仪对样品进行测量,得到圆环形的干涉条纹照片,对照片进行处理得到从样品中心到边部不同位置处的折射率数值和折射率分布曲线;b.将得到的折射率分布曲线与理想的折射率分布曲线比较,确定自聚焦透镜边部的折射率分布是高于或者是低于理想折射率分布;c.二次离子交换:当一次离子交换后的自聚焦透镜边部的折射率分布曲线高于理想折射率分布曲线、出现负球差和桶形畸变时,二次离子交换采用的熔盐为3%-6%NaNO3和97%-94%KNO3的混合盐,离子交换温度控制在530℃±0.5℃,离子交换的时间控制在20-30分钟以内;当第一次离子交换后自聚焦透镜边部的折射率分布曲线底于理想折射率分布曲线、出现正球差和枕形畸变时,二次离子交换采用的熔盐为3%-6%Tl2SO4和97%-94%KNO3的混合盐,离子交换温度控制在530℃±0.5℃,离子交换的时间控制在20-30分钟以内。
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