[发明专利]检测开孔的装置及方法无效
| 申请号： | 200410081980.9 | 申请日： | 2004-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN1796926A | 公开（公告）日： | 2006-07-05 |
| 发明（设计）人： | 马国栋 | 申请（专利权）人： | 明基电通股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02;G01B7/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 陶凤波;侯宇 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种检测开孔的装置，该装置包括：一基底；一结构层，形成于该基底上；以及一开孔检测电路，设置于该结构层的一侧，该开孔检测电路包括一位于开孔预定区的导体区块以及一连接该导体区块的导线。本发明还提供了一种检测开孔的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测开孔的装置，包括：一基底；一结构层，形成于所述基底上；以及一开孔检测电路，设置于所述结构层的一侧，所述开孔检测电路包括位于开孔预定区的一导体区块以及连接所述导体区块的一导线。
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