[发明专利]磁共振成像设备以及中心频率估算方法有效
申请号: | 200410082621.5 | 申请日: | 2004-09-24 |
公开(公告)号: | CN1600270A | 公开(公告)日: | 2005-03-30 |
发明(设计)人: | 浅野健二 | 申请(专利权)人: | GE医疗系统环球技术有限公司 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 程天正;梁永 |
地址: | 美国威*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 当存在对应于成像区域的多个片层时,为了与对每一片层的中心频率进行测量所花费的时间相比减少得到每一片层的中心频率所花费的时间,并保证得到的中心频率的准确度达到一定水平,由梯度线圈部分(160a,160b)定义在静磁场中的受检者的片层组(Gj),使得每一片层组(Gj)包含了多个彼此平行的片层(Si);包含在片层组(Gj)内的将被测量的片层(片层S2,S6和S9)的中心频率通过使用RF线圈部分(180a,180b)被实际测量;并且将每一通过测量实际得到的中心频率定义为包含被测量片层的片层组中除了被测量的片层之外的片层的中心频率。 | ||
搜索关键词: | 磁共振 成像 设备 以及 中心 频率 估算 方法 | ||
【主权项】:
1.一种磁共振成像设备(100),用于选择受检者的具有一定厚度的片层,并且根据从所述片层得到的需要的中心频率的磁共振信号生成所述片层的图像数据,所述设备(100)包括:片层组定义装置(15),用于在所述受检者的任意成像区域内定义包含多个彼此平行的所述片层的片层组;中心频率测量装置(15),用于对任一包含在所述片层组中的所述片层的中心频率进行测量;以及中心频率估算装置(15),用于根据由所述中心频率测量装置(15)测量得到的所述中心频率,对除了那些其中心频率被测量的片层之外的所述片层的中心频率进行估算。
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