[发明专利]金属碳化物衬底表面的处理方法及这种金属碳化物衬底无效
申请号: | 200410083276.7 | 申请日: | 2004-07-08 |
公开(公告)号: | CN1716522A | 公开(公告)日: | 2006-01-04 |
发明(设计)人: | M·G·范穆斯特尔 | 申请(专利权)人: | 齐卡博制陶业有限公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 蔡胜有 |
地址: | 荷兰海*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 金属碳化物衬底的表面的处理方法,所述的金属碳化物衬底用于半导体制造工艺。本发明也涉及用根据本发明的方法处理的用于半导体制造工艺的金属碳化物衬底。根据本发明,所述的方法包括使用反应性气体混合物选择性蚀刻所述金属碳化物衬底表面的步骤,由此在所述的金属碳化物衬底上形成碳表面层,并除去在所述金属碳化物衬底上生成的所述碳表面层。因而,用根据本发明的方法步骤,能够获得具有表面结构的金属碳化物衬底,该表面结构遵从关于如半导体制造工艺中所需的尺寸和纯度的高标准。尤其是,根据本发明步骤处理的金属碳化物衬底非常适合作为用于搬运及容纳半导体晶片的晶片舟,在该半导体晶片上,在精确、优良控制工作条件(温度、压力和真空)下,完成半导体制造过程的后续处理工艺(例如半导体层淀积或温度退火)。 | ||
搜索关键词: | 金属 碳化物 衬底 表面 处理 方法 这种 | ||
【主权项】:
1、一种处理金属碳化物衬底表面的方法,所述的金属碳化物衬底用在半导体制造过程中,所述的方法包括使用反应性气体混合物选择性蚀刻所述金属碳化物衬底表面,由此在所述的金属碳化物衬底上形成碳表面层,以及除去生成在所述金属碳化物衬底上的所述碳表面层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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