[发明专利]光电耦合器响应校正方法无效
| 申请号： | 200410083671.5 | 申请日： | 2004-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN1761326A | 公开（公告）日： | 2006-04-19 |
| 发明（设计）人： | 李伟祺 | 申请（专利权）人： | 德鑫科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04N9/097 | 分类号： | H04N9/097;H04N9/09 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光电耦合器响应校正方法，首先获取每个该光电耦合器的传感器单元的黑色参数值Black_ref以及白色参数值White_ref，根据该黑色参数值Black_ref以及该白色参数值White_ref计算增益值Gain_value，根据该黑色参数值Black_ref以及该增益值Gain_value制作并储存校正表，最后根据该校正表对相应的该传感器单元的实际响应值InputValue进行调整，得出校正值Correction_value，从而对光电转换产生的信号进行校正，提高了光电耦合器的像素响应。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 耦合器 响应 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光电耦合器响应校正方法，所述方法对光电转换产生的信号进行校正，从而提高该光电耦合器之像素响应，所述方法包括如下步骤：获取每个所述光电耦合器的传感器单元的黑色参数值Black_ref以及白色参数值White_ref；根据所述黑色参数值Black_ref以及所述白色参数值White_ref计算增益值Gain_value；根据所述黑色参数值Black_ref以及所述增益值Gain_value制作并储存校正表；及根据所述校正表对相应的所述传感器单元的实际响应值InputValue进行调整，得出校正值Correction_value。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德鑫科技股份有限公司，未经德鑫科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200410083671.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：在网络中进行虚通路环保护倒换的方法
- 下一篇：跌打药酒及其制造方法
