[发明专利]基于测量数据点直接数控加工方法无效
申请号: | 200410084299.X | 申请日: | 2004-11-18 |
公开(公告)号: | CN1605961A | 公开(公告)日: | 2005-04-13 |
发明(设计)人: | 尹忠慰;蒋丹;蒋寿伟 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G05B19/18 | 分类号: | G05B19/18;G05B19/19 |
代理公司: | 上海交达专利事务所 | 代理人: | 王锡麟;王桂忠 |
地址: | 200240*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种基于测量数据点直接数控加工方法,步骤为:1)测量三维离散点预处理:给定一系列测量数据点,基于B-spline曲线、曲面的性质,对离散数据点进行数据平滑、数据精简、数据区域分割、特征点提取和排序,利用选取的离散数据点为控制顶点进行B-spline曲线、曲面的构造,是一个“正求”过程,省略方程的求解;2)基于测量数据点直接数控刀具轨迹文件生成:依照被加工实体表面形状的复杂度来实施“自适应性”加工措施:针对实体表面曲率变化较大的区域,在实施数控刀具轨迹生成时采用较稠密的刀具轨迹进行加工,相反,针对实体表面曲率变化较小的区域,采用较稀疏的刀具轨迹进行加工。本发明提高快速成型制造效率,以缩短产品开发周期、提高市场竞争力。 | ||
搜索关键词: | 基于 测量 据点 直接 数控 加工 方法 | ||
【主权项】:
1、一种基于测量数据点直接数控加工方法,其特征在于,基于B样条曲面的性质,结合快速成型制造技术的特点,全面利用离散数据测量点的几何信息,具体包括两个步骤:1)测量三维离散点预处理:给定一系列测量数据点,基于B-spline曲线、曲面的性质,对离散数据点进行数据平滑、数据精简、数据区域分割、特征点提取和排序,利用选取的离散数据点为控制顶点进行B-spline曲线、曲面的构造,是一个“正求”过程,省略方程的求解;2)基于测量数据点直接数控刀具轨迹文件生成:依照被加工实体表面形状的复杂度来实施“自适应性”加工措施,针对实体表面曲率变化较大的区域,在实施数控刀具轨迹生成时采用较稠密的刀具轨迹进行加工,相反,针对实体表面曲率变化较小的区域,采用较稀疏的刀具轨迹进行加工。
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