[发明专利]岩体结构面粗糙度系数确定方法无效

专利信息
申请号: 200410084467.5 申请日: 2004-11-18
公开(公告)号: CN1779414A 公开(公告)日: 2006-05-31
发明(设计)人: 杜时贵 申请(专利权)人: 金华职业技术学院
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30
代理公司: 杭州天正专利事务所有限公司 代理人: 王兵;袁木棋
地址: 321007浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种岩体结构面粗糙度系数确定方法,包含以下步骤:对部分出露岩体结构面表面分别取样长度为10cm的多个测段;采用轮廓曲线仪绘制上述测段的轮廓曲线;测量上述轮廓曲线的起伏幅度RY0由公式计算每个测段粗糙度系数JRC0值;根据每个测段不同的粗糙度系数计算得到JRC0的期望值E(JRC0);由JRC尺寸效应分形模型JECn=E(JRC0)换算岩体结构面粗糙度系数JRCn值,即为岩体结构面的粗糙度系数值。本发明与现有技术相比,统计测量得到的岩体结构面粗糙度系数JRCn值不受岩体结构面出露面积的影响,精度满足要求,测量结果已经体现了岩体结构面粗糙度系数的尺寸效应影响,为定量统计分析具尺寸效应的岩体结构面粗糙度系数JRCn值提供了有效的手段。
搜索关键词: 结构 粗糙 系数 确定 方法
【主权项】:
1、一种岩体结构面粗糙度系数确定方法,其特征在于包含以下顺序步骤:(1)对部分出露岩体结构面表面分别取样长度为10cm的多个测段;(2)采用轮廓曲线仪绘制上述测段的轮廓曲线;(3)测量上述轮廓曲线的起伏幅度Ry0;(4)由公式 JRC 0 = 49.2114 e 29 450 arctan [ 4 R Y 0 5 ] 计算每个测段粗糙度系数JRC0值;(5)根据每个测段不同的粗糙度系数计算得到JRC0的期望值E(JRC0);(6)由JRC尺寸效应分形模型 JRC n = E ( JRC 0 ) [ L n L 0 ] - D 换算岩体结构面粗糙度系数JRCn值,即为岩体结构面的粗糙度系数值。
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