[发明专利]岩体结构面粗糙度系数测量方法

摘要

本发明涉及一种岩体结构面粗糙度系数测量方法，包含以下步骤：在工程岩体结构分析的基础上，判断潜在滑移结构面；确定潜在滑移结构面的潜在滑移破坏方向；在所述的潜在滑移方向均匀布置多个测段；采用轮廓曲线仪绘制每一测段的轮廓曲线；测量每一轮廓曲线的起伏幅度R_Yn；由公式计算粗糙度系数JRC_n值；对JRC_n值进行统计求得JRC_n期望值，即为岩体结构面的粗糙度系数值。本发明所述的方法使用操作方便，测量速度快，成本低，便于进行统计测量，而且测量结果已经体现了粗糙度系数的尺寸效应影响，同时为定量统计分析具各质异性、各向异性、非均一性和尺寸效应的岩体结构面粗糙度系数提供了有效的手段，具有较大的实施价值和社会经济效益。

主权项

1、一种岩体结构面粗糙度系数测量方法，其特征在于包含以下顺序步骤：(1)在工程岩体结构分析的基础上，判断潜在滑移结构面；(2)确定潜在滑移结构面的潜在滑移破坏方向；(3)在所述的潜在滑移方向均匀布置多个测段；(4)采用轮廓曲线仪绘制每一测段的轮廓曲线；(5)测量每一轮廓曲线的起伏幅度Ryn；(6)由公式${\mathrm{JRC}}_n=49.2114e^{\frac{29L_0}{{450L}_n}}\arctan \left[\frac{{8R}_{\mathrm{Yn}}}{L_n}\right]$ 计算粗糙度系数JRCn值；(7)对JRCn值进行统计求得JRCn期望值，即为岩体结构面的粗糙度系数值。