[发明专利]一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法无效
| 申请号： | 200410084655.8 | 申请日： | 2004-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN1779863A | 公开（公告）日： | 2006-05-31 |
| 发明（设计）人： | 桑浚之;辛吉升;曾志敏 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;H01L21/66;G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201206*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法，由故障信息采集模块(2)将测试过程中产生的所有故障信息按照存储器的逻辑地址储存下来，并将该错误信息传递给FBM转换模块(1)；所述FBM转换模块(1)将故障信息按照存储器的物理地址转换为DIB格式的BMP图形信息，并将该BMP图形信息传递给FBM显示模块(3)；所述FBM显示模块(3)按照BMP图形格式显示文件的信息；所述模式控制模块(4)用于控制FBM转换模块是否进行多线程转换处理及生成FBM文件中显示故障的种类。本发明能够将每个比特位的故障信息自动保存并转换成FBM，该FBM中包含了大量的用于F/A的故障信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 测试 过程 自动 产生 位图 信息 方法 | ||
【主权项】：
1、一种在存储器测试过程中自动产生位图信息的方法，其特征在于：它包括如下步骤：首先，由故障信息采集模块(2)将测试过程中产生的所有故障信息按照存储器的逻辑地址储存下来，并将该故障信息传递给FBM转换模块(1)；其次，FBM转换模块(1)将所述故障信息按照存储器的物理地址转换为DIB格式的BMP图形信息，并将该BMP图形信息传递给FBM显示模块(3)；然后，由FBM显示模块(3)按照BMP图形格式显示文件的信息；由模式控制模块(4)控制FBM转换模块(1)是否进行多线程转换处理及生成FBM文件中显示故障的种类。
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