[发明专利]波长监测器有效
申请号: | 200410086480.4 | 申请日: | 2004-10-21 |
公开(公告)号: | CN1609571A | 公开(公告)日: | 2005-04-27 |
发明(设计)人: | 雅科夫·G·索思凯德 | 申请(专利权)人: | JDS尤尼弗思公司 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;G01J9/00;H01S3/13;H01S5/0687;G02B6/34 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人: | 郑小粤 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明描述了一种用来监测一束光束的波长监测器,带有一种分束器具有相对的第一和第二间隔表面,用来接收来自被监测光束的光辐射。在工作时,第一表面反射光辐射的一个第一部分到一个第一光检测器。第二表面包括一个用来将光辐射的一个第二部分反射到第一光检测器的光栅。光栅还将光辐射的一个第三部分反射到一个第二光检测器。由第二光检测器接收的光与入射光束的光功率成比例。第一光检测器用来探测复合光束的一个波长特性,并且被定位,以便在光辐射的第一和第二部分经过光学干涉形成一个复合光束后接收光辐射的第一和第二部分。第一表面和光栅被定向好,并相互隔开,使光辐射的第一和第二部分沿着向第一光检测器的光路相互光学干涉。 | ||
搜索关键词: | 波长 监测器 | ||
【主权项】:
1.一种用来监测一个光束的波长监测器件,包括:a)一个带有相对的第一和第二间隔分开表面的分束器,用来接收来自需被监测的光束的光辐射,第一和第二表面中的一个将光辐射中的一个第一部分反射到一个第一位置,第一和第二表面的另一表面包括在它上面或附近的一个光学结构,以便:将光辐射的一个第二部分反射到第一位置,将光辐射的一个第三部分反射到一个第二位置;b)光辐射的第一和第二部分经过光学干涉形成一束复合光束后,一个第一光检测器在第一位置接收光辐射,第一光检测器用来探测复合光束的波长特性;及c)一个第二光检测器接收在第二位置的光辐射,其中在第二位置的光辐射的第三部分按比例与入射光束的光功率对应;其中第一表面和光学结构以一定的方向放置,并且相互间隔开,这样,光辐射的第一和第二部分会在沿着通向第一光检测器的一个光路上相互光学干涉。
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