[发明专利]电子部件解析方法、电子部件解析装置及使用它的电子部件无效
申请号: | 200410086678.2 | 申请日: | 2004-12-10 |
公开(公告)号: | CN1627303A | 公开(公告)日: | 2005-06-15 |
发明(设计)人: | 佐佐木幸纪 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;G06T17/40 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳;邸万杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种可实现缩短电子部件的设计时间、降低其成本的电子部件解析方法、电子部件解析装置。在解析具有焊锡凸块、Au凸块或BGA等突起电极的电子部件时,在步骤S1中,作成包含电子部件形状信息的三维模型的电子数据。接着,在步骤S2中,将构成三维模型的曲线或曲面置换为用多角形近似的三维模型。然后,在步骤S3中,对用用多角形近似的三维模型进行变换,作成有限元模型。接着,在步骤S4中,使用在步骤S3中作成的有限元模型进行有限元解析等的数值模拟,最后,在步骤S5中,显示解析结果,并进行评价。 | ||
搜索关键词: | 电子 部件 解析 方法 装置 使用 | ||
【主权项】:
1.一种电子部件解析方法,该电子部件包括具有曲面部的电极端子,其特征在于:将构成上述电极端子的三维模型的曲线及曲面置换为用多角形近似的三维模型,使用对该三维模型进行变换所作成的使用了实体单元的有限元模型。
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