[发明专利]发光元件光学特性自动化测试系统及方法无效
| 申请号： | 200410088133.5 | 申请日： | 2004-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN1760688A | 公开（公告）日： | 2006-04-19 |
| 发明（设计）人： | 庄嘉明;张家荣 | 申请（专利权）人： | 致茂电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66;G01M11/02 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王英 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种发光元件光学特性自动化测试系统及方法，主要是将一台光学特性提取装置以一个固定的半径始终面对待测的发光元件持续旋绕，再把旋绕的周期分为测量段与非测量段落，并且利用非测量段让待测元件旋转或更换待测元件，简化提取装置的承载装置运动状态，不但可以配合自动化流程进行持续的元件测试，并且让所述测试系统的整体结构简单、动作迅速，又能广角度测量而不失精确，充分弥补市面上缺乏全面符合市场需求的高速测试发光元件仪器的遗憾。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 元件 光学 特性 自动化 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1、一种发光元件光学特性自动化测试方法，用于对一个移动中的发光元件进行测试，其特征在于所述方法包含：a)使所述发光元件滞留于一个测试区域一段预定时间；b)将一台第一光学特性提取装置以一个固定的半径始终面对所述测试区域持续旋绕，并依据所述发光元件的光学特性将所述第一光学特性提取装置的旋绕路径划分为一个可量得光学特性的测量段，及一个无法量得光学特性的非测量段；以及c)使所述第一光学特性提取装置运行至所述测量段时记录所述第一光学特性提取装置所量得的光学特性。
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