[发明专利]面板裂片后缺陷检测装置以及检测方法有效
申请号: | 200410088790.X | 申请日: | 2004-11-03 |
公开(公告)号: | CN1769963A | 公开(公告)日: | 2006-05-10 |
发明(设计)人: | 李洪明;曾智义;彭国峰;梁嘉新;简木发 | 申请(专利权)人: | 均豪精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/133 | 分类号: | G02F1/133;G01N21/88 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 孙皓晨;贺华廉 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供了一种面板裂片后缺陷检测装置以及检测方法,该检测装置包括有一载台部以及至少一影像撷取部。该载台部承载具有至少一侧边的面板。该载台部提供第一线性位移运动以及旋转运动。该影像撷取部具有一第一扫描体以及一第二扫描体,该第一扫描体与该第二扫描体的扫描侧相对应且以一扫描空间相隔。该影像撷取部可提供一第二线性位移运动调整扫描位置。其中,该载台部通过至少一次第一线性位移运动以及至少一次旋转运动使该侧边通过该扫描空间,而使该影像撷取部撷取与该侧边相邻接的顶面以及与该侧边相邻接的底面的影像,以检测缺陷。 | ||
搜索关键词: | 面板 裂片 缺陷 检测 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
1、一种面板裂片后缺陷检测装置,包括:一载台部,承载一面板,该面板具有至少一侧边,该载台部提供该面板进行第一线性位移运动以及旋转运动;以及至少一影像撷取部,具有:一滑轨体,其位于该载台部的一侧,该滑轨体还具有可进行第二线性位移运动的一支架;至少第一扫描体,与支架相连接,该第一扫描体可扫描与该侧边相邻接的一顶面;以及至少第二扫描体,与该支架相连接,该第二扫描体的扫描侧与该第一扫描体的扫描侧相对应,该第二扫描体扫描与该侧边相邻接的一底面;其中,载台部以第一线性位移运动将该面板通过该影像撷取部,使该载台部进行旋转运动。
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