[发明专利]构造具有低测试功耗的两级扫描测试结构的方法

摘要

构造具有低测试功耗的两级扫描测试结构的方法，属于集成电路测试技术领域，其特征在于：它先由电路网单文件得到判别两两时序单元之间有无共同组合后继的表格；根据此表格来对时序单元进行分组，并对组的大小进行调整使分组均匀；通过在时序单元之前加入多路选择器的方法将所有的时序单元改造为扫描时序单元；从每组中各选出一个扫描时序单元，构成一条扫描链，连接到时钟信号clk₁，余下的扫描时序单元分成小组，每个小组分别由扫描链中的一个扫描时序单元来驱动，连接到时钟信号clk₂；该方法可在故障覆盖率和测试向量基本不变且难测故障数没有增加的情况下，使得测试功耗得到很大程度的减小。

主权项

1.构造具有低测试功耗的两级扫描测试结构的方法，其特征在于：它依次含有以下步骤：第1步：初始化，向计算机输入电路网单文件，采用N*N表格conv[N][N]来记录时序单元在电路结构上的相互关系，其中N为时序单元的总数；若对于i≠j，i∈[1， N]，j∈[1，N]的时序单元i与时序单元j，i与j在电路结构上有共同组合后继，则conv[i][j]＝conv[j][i]＝1，否则conv[i][j]＝conv[j][i]＝0；第1.1步：建立conv[N][N]表格；第1.1.1步：对于电路中所有时序单元，设时序单元i的输出信号线在电路中对应的标识为iOut，将时序单元i的组合后继依次存入数组successor_of_iOut[]中，方法如下：首先将时序单元i的直接组合后继i1 i2…in存入数组中，然后依次将i1 i2…in的直接组合后继也存入数组中，直到存入数组的单元已经是一个时序单元或者是原始输出为止；第1.1.2步：对于任意两个时序单元i和j，若successor_of_iOut[]和successor_of_jOut[]中有相同单元，则conv[i][j]＝conv[j][i]＝1；否则conv[i][j]＝conv[j][i]＝0；第2步：根据N*N表格conv[N][N]对时序单元进行分组；第2.1步：设时序单元的集合为F，各组分别为G1 G2…Gn；第2.2步：若F非空，则执行第2.3步，否则执行第2.4步；第2.3步：建立新组Gm，m∈[1，n]，任取F中的一个时序单元g放入Gm，遍历F中剩余的时序单元，若某时序单元f满足g∈Gm，conv[f][g]＝0，则将f放入Gm，更新F和Gm，继续遍历F中剩余的时序单元；遍历结束后转第2.2步；第2.4步：分组结束第3步：为使分组均匀，对第2步所得分组结果进行调整；第3.1步：从G1 G2…Gn中选出最大组Gmax和最小组Gmin，Gmax是所含时序单元数量最多的组，Gmin是所含时序单元数量最少的组；第3.2步：从Gmax中选出满足条件g∈Gmin，conv[f][g]＝0的时序单元f，将f放入Gmin，更新Gmax和Gmin；第3.3步：反复执行第3.1步和第3.2步，直到Gmax与Gmin的大小相差为1或者Gmax 中已经找不到满足条件g∈Gmin，conv[f][g]＝0的时序单元f为止；第4步：根据调整以后的分组结果G1 G2…Gn来构造低测试功耗的两级扫描测试结构第4.1步：在各时序单元之前分别加入多路选择器MUX，改造为扫描时序单元；第4.2步：从G1 G2…Gn中各选出一个扫描时序单元g1’g2’…gn’，构成一条扫描链，扫描时序单元g1’g2’…gn’的时钟输入连接到时钟信号clk1；第4.3步：G1 G2…Gn中剩余的扫描时序单元的时钟输入连接到时钟信号clk2；第4.4步：将G1中剩余的扫描时序单元的逻辑输入连接到扫描时序单元g1’的逻辑输出，将G2中剩余的扫描时序单元的逻辑输入连接到扫描时序单元g2’的逻辑输出，以此类推，将Gn中剩余的扫描时序单元的逻辑输入连接到扫描时序单元gn’的逻辑输出；第4.5步：将时钟信号clk分别连接到两输入与门AND1和AND2的输入端，控制信号C1和C2分别连接到AND1和AND2的另一个输入端，clk1和clk2分别为AND1和AND2的输出；当C1＝1且C2＝0时，clk1有效且clk2无效；当C1＝0且C2＝1时，clk1无效且clk2有效。