[发明专利]用于波长转换的半导体光学放大器的制备方法无效

专利信息
申请号: 200410088915.9 申请日: 2004-11-09
公开(公告)号: CN1773791A 公开(公告)日: 2006-05-17
发明(设计)人: 张瑞英;王圩;简永生 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所;北京交通大学
主分类号: H01S5/34 分类号: H01S5/34;H01S5/10;H01S5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 100083北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种用于波长转换的半导体光学放大器的制备方法,包括如下步骤:步骤1:在衬底上依次外延生长缓冲层、下限制层、n-型调制掺杂多量子阱有源区、上限制层以及盖层;步骤2:在盖层上生长二氧化硅层;步骤3:光刻腐蚀出斜角条形结构;步骤4:在斜角条形结构两侧掩埋半绝缘阻挡层4;步骤5:腐蚀掉斜角条形结构顶层的二氧化硅;步骤6:再外延生长盖层和接触层;步骤7:在接触层上生长二氧化硅层;步骤8:光刻腐蚀出二氧化硅窗口;步骤9:在上下两面蒸镀或溅射上电极和下电极;步骤10:解理,在腔面两端蒸镀抗反射膜。
搜索关键词: 用于 波长 转换 半导体 光学 放大器 制备 方法
【主权项】:
1、一种用于波长转换的半导体光学放大器的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:在衬底上依次外延生长缓冲层、下限制层、n-型调制掺杂多量子阱有源区、上限制层以及盖层;步骤2:在盖层上生长二氧化硅层;步骤3:光刻腐蚀出斜角条形结构;步骤4:在斜角条形结构两侧掩埋半绝缘阻挡层4;步骤5:腐蚀掉斜角条形结构顶层的二氧化硅;步骤6:再外延生长盖层和接触层;步骤7:在接触层上生长二氧化硅层;步骤8:光刻腐蚀出二氧化硅窗口;步骤9:在上下两面蒸镀或溅射上电极和下电极;步骤10:解理,在腔面两端蒸镀抗反射膜。
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