[发明专利]用于Z轴跟踪和校准的方法和设备有效
| 申请号： | 200410090533.X | 申请日： | 2004-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN1612039A | 公开（公告）日： | 2005-05-04 |
| 发明（设计）人： | B·M·敦哈姆;J·S·普里斯 | 申请（专利权）人： | GE医疗系统环球技术有限公司 |
| 主分类号： | G03B42/02 | 分类号： | G03B42/02;A61B6/03 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;梁永 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于在具有z轴的计算机断层扫描(CT)成像系统(10)的扫描过程中调整焦斑(246)位置的方法。CT成像系统包括具有多个检测器元件(20)的检测器阵列(18)以及配置成把x射线束(16)通过待成像对象(22)引向检测器的x射线管(14)。该方法包括接通(406)x射线管并从检测器中读取(408)z比值。然后利用所读取的z比值来确定(410)x射线管的焦斑位置的位移。该方法还包括采用传递函数来确定(412)补偿电子偏转值；以及把电子偏转值应用于(414)x射线管作为偏转电压或偏转电流中至少一个，从而在z轴方向跟踪焦斑。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 跟踪 校准 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于在具有z轴的计算机断层扫描成像系统的扫描过程中调整焦斑(246)位置的方法，其中所述计算机断层扫描成像系统(10)包括具有多个检测器元件(20)的检测器阵列(18)以及配置成把x射线束(16)通过待成像的对象(22)引向所述检测器的x射线源(14)，所述方法包括：接通(406)所述x射线管；从所述检测器读取(408)z比值；利用所述读取的z比值来确定(410)所述x射线管的焦斑位置的位移；采用传递函数来确定(412)电子偏转值；以及把所述电子偏转值应用于(414)所述x射线管作为偏转电压或偏转电流中至少一个，从而在所述z轴方向跟踪所述焦斑。
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