[发明专利]用串联质谱中碎片离子的同位素峰预测离子分子式的方法有效

专利信息
申请号: 200410090806.0 申请日: 2004-11-12
公开(公告)号: CN1773276A 公开(公告)日: 2006-05-17
发明(设计)人: 高文;张京芬;蔡津津;贺思敏;曾嵘;陈润生;王海鹏 申请(专利权)人: 中国科学院计算技术研究所
主分类号: G01N30/86 分类号: G01N30/86;G06F19/00
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 代理人: 高存秀
地址: 100080北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用串联质谱中碎片离子的同位素峰预测离子分子式的方法,该方法从串联质谱和从各元素的原子个数待定的通用分子式中分别获取碎片离子的单同位素的质量以及各同位素谱峰相对于单同位素的相对丰度;将分别获取的质量和相对丰度做匹配以获得所述通用分子式中待定的各元素的原子个数的非负整数解,得到碎片离子的分子式。本发明的方法利用串联质谱中碎片离子的同位素谱峰信息,通过串联质谱碎片离子的同位素谱峰的模式计算此碎片离子对应的分子式。本发明的方法可以提供碎片离子准确的分子式信息,可对鉴定多肽序列的数据库搜索方法提供的候选序列进行鉴别;以及为求解多肽序列的de novo方法产生高可靠候选序列提供依据。
搜索关键词: 串联 质谱中 碎片 离子 同位素 预测 分子式 方法
【主权项】:
1、一种用串联质谱中碎片离子的同位素峰预测离子分子式的方法,包括:步骤1):从串联质谱中获取一碎片离子的单同位素及其至少一个同位素的谱峰,计算所述碎片离子的单同位素的质量、所述碎片离子的单同位素的谱峰和所述碎片离子的至少一个同位素的谱峰之间的相对丰度;步骤2)提供碎片离子的一通用分子式,所述通用分子式中各元素的原子个数待定;步骤3):用所述通用分子式得到碎片离子的理论上的单同位素的质量、碎片离子的单同位素和其至少一个同位素的相对丰度;所述理论上的单同位素的质量、碎片离子的单同位素和其至少一个同位素离子的相对丰度为所述通用分子式中待定的原子个数的函数;步骤4):将步骤3)中得到的质量和相对丰度与步骤1)中从串联质谱质量和相对丰度做匹配,以获得所述通用分子式中待定的各元素的原子个数的非负整数解,从而得到所述碎片离子的分子式。
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