[发明专利]基于磁头的触点压力筛选头的方法及测量触点压力的方法无效
| 申请号： | 200410092198.7 | 申请日： | 2004-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN1607579A | 公开（公告）日： | 2005-04-20 |
| 发明（设计）人： | 高桥干 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G11B5/02 | 分类号： | G11B5/02;G11B5/48 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 康建峰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 准备一个头万向架组件(24)，其中悬架(25)的近端部被支撑在检查盘(14)的表面以上的给定的安装高度，并且使头悬架的磁头(22)与检查盘的表面相接触。在这种状态下，旋转检查盘，并且根据已改变的悬架的安装高度和/或检查盘的旋转频率，检测磁头与检查盘的分离。该安装高度和检查盘的旋转频率被转换为磁头的触点压力，以便当该头与检查盘表面相分离时测量触点压力。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 磁头 触点 压力 筛选 方法 测量 | ||
【主权项】：
1.一种基于磁头的触点压力来筛选触点记录型磁头的方法，其特征在于包括：准备头万向架组件，该头万向架组件具有悬架和磁头，通过万向簧片，该磁头被支撑在悬架的远端部；使所述悬架的近端部支撑在检查盘表面的给定安装高度处、并且使磁头与检查盘的表面接触，旋转检查盘；以及使检查盘的旋转频率增加到给定值，检测磁头与检查盘的表面相分离，由此基于分离的特性筛选磁头。
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