[发明专利]半导体装置以及半导体装置的测试方法无效
| 申请号： | 200410092253.2 | 申请日： | 2004-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN1619328A | 公开（公告）日： | 2005-05-25 |
| 发明（设计）人： | 幕内雅巳;中條德男;今川健吾;折桥律郎;荒井祥智 | 申请（专利权）人： | 株式会社瑞萨科技 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的半导体装置具有液晶驱动电路，而且在该灰度电压测试时，把设置在半导体装置中的灰度电压生成电路生成的灰度电压(Vx)与为了测试灰度电压而生成的比较电压(例如Vx+ΔV)进行比较，把测试结果作为二值电压从半导体装置的外部端子输出，由此，即使上述液晶驱动电路实现高灰度化或者增加上述半导体装置的输出端子数，由于高速地进行上述灰度电压测试，因此也能够缩短测试所需要的时间，并且降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 以及 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.具有液晶驱动电路的半导体装置，其特征在于：在上述半导体装置的灰度电压测试时，把由上述半导体装置的灰度电压生成电路生成的灰度电压与为了测试上述灰度电压而生成的比较电压进行比较，把上述测试结果作为二值电压从上述半导体装置的外部端子输出。
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