[发明专利]输出级结构有效

专利信息
申请号: 200410092714.6 申请日: 2004-11-11
公开(公告)号: CN1773708A 公开(公告)日: 2006-05-17
发明(设计)人: 李朝政;林永豪;王文祺;蔡瑞原 申请(专利权)人: 瑞昱半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L21/8238
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 李晓舒;魏晓刚
地址: 台湾省新*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明涉及一种输出级结构,其包含第一、第二p型金属氧化物半导体晶体管以及第一、第二n型金属氧化物半导体晶体管,其中,该些金属氧化物半导体晶体管是以双阱工艺制作。第一p型金属氧化物半导体晶体管的源极连接电压源,栅极连接第一电压;第二p型金属氧化物半导体晶体管的源极连接第一p型金属氧化物半导体晶体管的漏极,栅极连接第二电压,漏极连接输出垫;第一n型金属氧化物半导体晶体管的漏极连接输出垫,栅极连接第三电压;第二n型金属氧化物半导体晶体管的漏极连接第一n型金属氧化物半导体晶体管的源极,栅极连接第四电压,源极连接一接地点。
搜索关键词: 输出 结构
【主权项】:
1.一种互补型金属氧化物半导体晶体管输出级结构,其包含:一第一p型金属氧化物半导体晶体管,该第一p型金属氧化物半导体晶体管具有一第一源极、一第一栅极、一第一漏极以及一第一基体端点,该第一源极耦接于一电压源,该第一栅极耦接于一第一参考电压;一第二p型金属氧化物半导体晶体管,该第二p型金属氧化物半导体晶体管具有一第二源极、一第二栅极、一第二漏极以及一第二基体端点,该第二源极耦接于该第一漏极,该第二栅极耦接于一第二参考电压,该第二漏极耦接于一输出垫;一第一n型金属氧化物半导体晶体管,该第一n型金属氧化物半导体晶体管具有一第三漏极、一第三栅极、一第三源极以及一第三基体端点,该第三漏极耦接于该输出垫,该第三栅极耦接于一第三参考电压;以及一第二n型金属氧化物半导体晶体管,该第二n型金属氧化物半导体晶体管具有一第四漏极、一第四栅极、一第四源极以及一第四基体端点,该第四漏极耦接于第三源极,该第四栅极耦接于一第四参考电压,该第四源极耦接于一接地点;其中,该些p型金属氧化物半导体晶体管以及该些n型金属氧化物半导体晶体管构成一双阱结构。
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