[发明专利]电光调制激光测距方法及其装置无效

专利信息
申请号: 200410093019.1 申请日: 2004-12-15
公开(公告)号: CN1624492A 公开(公告)日: 2005-06-08
发明(设计)人: 赵栋;刘立人;王吉明;潘卫清 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种电光调制激光测距方法及其装置,该方法是利用激光的偏振特性作为信息载体来进行激光测距:利用单轴晶体的横向电光效应,配合偏振分光器和偏振检偏器,在单轴晶体上平行光轴方向施加半波电压时,利用其扭转线偏振光偏振方向90角的特性,提取出一个以激光往返待测距离所需时间t为脉宽的光脉冲。本发明克服了现有测距方法由光电转换过程和电路系统本身引入的误差。本发明结构简单易行,操作方便,不受环境影响,抗干扰能力强,测量距离范围广,最近可测几米的距离,在激光器能量较高的情况下,最远可测10千米的距离。测量精度高,可达到厘米级的测量精度。
搜索关键词: 电光 调制 激光 测距 方法 及其 装置
【主权项】:
1、一种电光调制激光测距方法,其特征在于利用激光的偏振特性作为待测距离信息的载体,在单轴电光晶体上平行光轴方向加半波电压,配和使用补偿晶体、偏振分光器、偏振检偏器和偏振分光器,将往返于电光晶体和待测物体之间的光束截断为脉宽t的矩形光脉冲,则电光晶体和待测物体之间的距离L: L = c * t 2 其中c为光在空气中的速度。
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