[发明专利]一种提高激光气体分析系统测量光束透光率的方法与装置有效
| 申请号： | 200410093507.2 | 申请日： | 2004-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN1796981A | 公开（公告）日： | 2006-07-05 |
| 发明（设计）人： | 王健 | 申请（专利权）人： | 聚光科技（杭州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/53 | 分类号： | G01N21/53;G01N21/59 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 310012浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种对在位式半导体激光气体分析系统测量光束通道中的过程气流中的液态、固态颗粒物进行现场滤除来提高测量光束透光率的方法和装置。提供了一种能提高在位式激光分析系统测量激光束在含有液、固颗粒物的被测过程气流中测量光束的透光率，缩小透光率变化范围的方法和装置，解决了在位式激光气体分析系统测量激光束由过程气流中的液、固态颗粒物造成的透光率低、透光率变化范围大等技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 激光 气体 分析 系统 测量 光束 透光率 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种提高激光气体分析系统测量光束透光率的方法，其特征是在穿过被测过程气流管道的测量激光光束的上游设一挡体装置，在挡体装置的下游形成一个颗粒物体密度相对较低的气流区域，测量光束从该气流区域通过，从而提高测量光束在被测过程气流中的透光率。
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