[发明专利]高双折射保偏光纤弱模耦合测量仪及控制方法

摘要

一种高精度高双折射保偏光纤弱模耦合测量仪，包括测量光纤、偏振态调整机构(20)和扫描干涉仪(30)；其特征在于：所述偏振调整机构包括可旋半波片(21)、分光棱镜(22)、第一会聚透镜、步进电机(25)和第一光电探测器(24)，所述扫描干涉仪(30)包括分束棱镜(31)、第一棱镜(32)第二棱镜(33)和第三棱镜(34)、扫描直角棱镜(35)、第二会聚透镜(36)、第二光电探测器37以及第二步进电机(38)，所述偏振调整机构(20)和扫描干涉仪(30)分别通过光电探测器与计算机的PCI接口相连接。本发明提出的双折射保偏光纤弱模耦合测量仪具有测量精度高，灵敏度高的特点，可用于工业、军事和民用中传感、检测领域，具有广阔的应用前景。

主权项

1.一种高精度高双折射保偏光纤弱模耦合测量仪，包括测量光纤、偏振态调整机构(20)和扫描干涉仪(30)；其特征在于：所述偏振调整机构包括可旋半波片(21)、分光棱镜(22)、第一会聚透镜、步进电机(25)和第一光电探测器(24)，所述扫描干涉仪(30)包括分束棱镜(31)、第一棱镜(32)第二棱镜(33)和第三棱镜(34)、扫描直角棱镜(35)、第二会聚透镜(36)、第二光电探测器37以及第二步进电机(38)，所述偏振调整机构(20)和扫描干涉仪(30)分别通过光电探测器与计算机的PCI接口相连接；其中：光束进入双折射保偏光纤中，经过扩束透镜后进入偏振态调整机构(20)，由设置在所述偏振态调整机构(20)中的第一步进电机(25)带动可旋半波片(21)转动，得到偏振光束；偏振光束在第一分光棱镜(22)的作用下，分成两束光，一束进入扫描干涉仪(30)，另一束则通过第一会聚透镜(23)，进入第一会聚透镜(23)的平行光信号会聚后，被第一光电探测器(24)接收，该电信号传送至计算机(40)进行数据采集和处理，另一束到达扫描干涉仪(30)的光信号，被分束棱镜(31)分成两束光，一路经过第一棱镜(32)和第二棱镜(33)的反射后到达第二会聚透镜(36)，由该第二会聚透镜(36)将光束会聚在第二光电探测器(37)上；另一路经过扫描直角棱镜(35)和第三棱镜(34)的反射后到达第二会聚透镜(36)；两束光在第二光电探测器(37)上形成干涉条纹，扫描直角棱镜(35)设置于精密导轨(39)上，步进电机(38)启动精密导轨(39)平行移动扫描直角棱镜，改变两条干涉光路的光程差，测量双折射率光纤中偏振耦合点。