[发明专利]相变尖端存储单元有效

专利信息
申请号: 200410094745.5 申请日: 2004-11-17
公开(公告)号: CN1627547A 公开(公告)日: 2005-06-15
发明(设计)人: 戴维·V·霍拉克;仲·H·兰姆;黄汉森 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;G11C11/56;G11C13/00;H01L27/10
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种存储单元、具有可能位于存储单元阵列中的一个或多个存储单元的集成电路(IC)、以及制作存储单元和IC的方法。各个存储单元包括其尖端是相变材料的触针。相变尖端可以被夹在电极与导电材料例如氮化钛(TiN)、氮化钽(TaN)、或n型半导体之间。相变层可以是硫族化物,确切地说是锗(Ge)、锑(Sb)、碲(Te)(GST)层。
搜索关键词: 相变 尖端 存储 单元
【主权项】:
1.一种存储器件,它包含:第一电极;排列在所述第一电极上的触针,所述触针具有由相变材料组成的相变尖端;排列在所述第一电极上的所述相变尖端的顶端;以及与所述触针接触的第二电极。
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