[发明专利]自动分析装置以及自动分析装置的分析方法有效

专利信息
申请号: 200410095606.4 申请日: 2004-12-02
公开(公告)号: CN1624484A 公开(公告)日: 2005-06-08
发明(设计)人: 山崎功夫;西田正治 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/02 分类号: G01N35/02;G01N35/00;G01N33/50
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 张敬强
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种自动分析装置,该装置即使在多个分注时间的试剂混合在一起的情况下,仍具有高处理能力。所述自动分析装置设有:多个反应容器;以一定周期输送所述多个反应容器的反应容器输送装置;将试料分注在所述反应容器输送装置上的反应容器中的试料分注装置;试剂分注装置,其在试料一试剂反应过程中能够分注添加时间不同的试剂,并且所述添加时间的数量大于在1个周期时间内能够分注试剂的次数;控制装置,其用于控制所述试料分注装置,以便当在所述试剂分注装置的试剂添加时间内,使用了具有最迟分注时间的试剂的分析以大于预定次数连续进行时,能够设定不通过所述试料分析装置进行试料分注的周期。
搜索关键词: 自动 分析 装置 以及 方法
【主权项】:
1.一种自动分析装置,其特征在于,其设有:多个反应容器;以一定周期输送所述多个反应容器的反应容器输送装置;将试料分注在所述反应容器输送装置上的反应容器中的试料分注装置;试剂分注装置,其在试料-试剂反应过程中能够分注添加时间不同的试剂,并且所述添加时间的数量大于在1个周期时间内能够分注试剂的次数;及控制装置,其用于控制所述试料分注装置,以便当在所述试剂分注装置的试剂添加时间内,使用了具有最迟分注时间的试剂的分析以大于预定次数连续进行时,能够设定不通过所述试料分析装置进行试料分注的周期。
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