[发明专利]用于磁记录的装置和用于测量偏移量的方法无效
申请号: | 200410097320.X | 申请日: | 2004-11-26 |
公开(公告)号: | CN1627429A | 公开(公告)日: | 2005-06-15 |
发明(设计)人: | 中村博昭;米泽实 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G11B21/10 | 分类号: | G11B21/10;G11B5/596 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 秦晨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一个磁记录介质包括一个分立区,和一个偏移量测量区。分立区含有一个可以记录数据的磁记录区的多个轨道,以及在多个相邻轨道之间不能记录、定位数据的非磁区。偏移量测量区用于记录测量数据,该测量数据用于测量偏移量,表示以径向方向从一个轨道中心位置到组合磁头中的记录头和再现头中的一个的相对距离,当另一个头位于每个轨道中心位置时。组合磁头包括在磁记录区写入数据的记录头,以及在磁记录区读取数据的再现头。 | ||
搜索关键词: | 用于 记录 装置 测量 偏移 方法 | ||
【主权项】:
1.根据本发明的一个方面,一种磁记录介质,包括:分立区,所述分立区具有含有可以记录数据的磁记录区的多个轨道,和位于多个相邻轨道之间不能记录数据的非磁区;以及偏移量测量区,在该偏移量测量区用于测量偏移量的测量数据可以被记录,偏移量表示当组合磁头中的记录头和再现头中的一个头位于每个轨道中心位置时,沿径向方向从一个轨道中心位置到另一个头的相对距离,组合磁头包括在磁记录区中写入数据的记录头,以及读取记录在磁记录区的数据的再现头。
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