[发明专利]在具有图形的绝缘硅基衬底上制作硅薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 200410097520.5 申请日: 2004-11-23
公开(公告)号: CN1632913A 公开(公告)日: 2005-06-29
发明(设计)人: 徐世六;张正元;刘玉奎;杨国渝;税国华 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/02;H01L21/20;H01L21/84
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400060重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及一种在带图形的绝缘硅基衬底上制作硅薄膜的方法。该方法是首先将两硅片制作成硅薄膜厚度符合要求的硅薄膜—二氧化硅—硅键合片,其次将所述的硅薄膜—二氧化硅—硅键合片与具有图形氧化层的绝缘硅基衬底制作成硅—二氧化硅—硅薄膜—绝缘硅基衬底键合片,最后用腐蚀方法除去所述硅—二氧化硅—硅薄膜—绝缘硅基衬底键合片的硅薄膜表面上的硅—二氧化硅层,完成在带图形的绝缘硅基衬底上制作硅薄膜。该方法用于微电子机械系统(MEMS)可动部件制造中。
搜索关键词: 具有 图形 绝缘 衬底 制作 薄膜 方法
【主权项】:
1、一种在具有图形的绝缘硅基衬底上制作硅薄膜的方法,其特征在于:该方法包括有如下步骤:(1)先将两硅片制作成硅薄膜厚度符合要求的硅薄膜—二氧化硅—硅的键合片;(2)将所述的硅薄膜—二氧化硅—硅的键合片与具有图形的氧化层绝缘硅基衬底硅/硅键合成硅—二氧化硅—硅薄膜—绝缘硅基衬底键合片;(3)用腐蚀方法除去所述硅—二氧化硅,获得硅薄膜—绝缘硅基衬底的键合片。
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