[发明专利]制造半导体器件的方法有效

专利信息
申请号: 200410098273.0 申请日: 1999-11-17
公开(公告)号: CN1614782A 公开(公告)日: 2005-05-11
发明(设计)人: 山崎舜平 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;G02F1/136
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 浦柏明;张志醒
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种可靠性得到改善的薄膜晶体管。栅极包括具有锥形部分的第一栅极和宽度比第一栅极窄的第二栅极。对半导体层经第一栅极掺入低浓度的磷。在半导体层中,在沟道形成区和n+型杂质区之间形成两种n型杂质区。一些n型杂质区与栅极交叠,而其它n型杂质区不与栅极交叠。由于形成两种n型杂质区,可降低截止电流,并可抑制性能的退化。
搜索关键词: 制造 半导体器件 方法
【主权项】:
1.一种具有显示器件的电子设备,包括:衬底;形成在该衬底上的第一薄膜晶体管,所述第一薄膜晶体管包括:包含至少第一沟道形成区域、第二沟道形成区域、轻掺杂区域和源区及漏区的第一半导体岛;形成在该第一半导体岛上的第一栅绝缘膜;在第一沟道形成区域上形成的第一栅极,第一栅绝缘膜被插入在它们之间;和在第二沟道形成区域上形成的第二栅极,第一栅绝缘膜被插入在它们之间;包括至少一个形成在所述衬底上的第二薄膜晶体管的驱动电路,所述第二薄膜晶体管包括:包含至少第三沟道形成区域的第二半导体岛;形成在所述第二半导体岛上的第二栅绝缘膜;在第三沟道形成区域上形成的第三栅极,第二栅绝缘膜被插入在它们之间;覆盖第一、第二和第三栅极以及所述第一和第二半导体岛的中间层绝缘膜,以及形成在该中间层绝缘膜上的像素电极,并且电连接到第一半导体岛的源区和漏区中的一个,其中每个第一、第二和第三栅极具有锥形边缘,该锥形角度范围在3°-60°。
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