[发明专利]测定聚合物分子量的装置无效

专利信息
申请号: 200410100203.4 申请日: 2004-12-07
公开(公告)号: CN1627065A 公开(公告)日: 2005-06-15
发明(设计)人: J·N·亚历山大四世;D·A·索西 申请(专利权)人: 罗姆和哈斯公司
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N27/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 邓毅
地址: 美国宾*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及通过使用从藉联到飞行时间质谱仪(TOF-MS)的被分析物电喷雾滴产生的电荷减少气相被分析物离子,对分子和高分子(包括聚合物)的直接质量分析的装置和方法。根据本发明分析的分子和高分子(包括聚合物)同时包括具有重均分子量在1千道尔顿(kD)和500,000kD之间的重均分子量的水溶性和水不溶性的聚合物。
搜索关键词: 测定 聚合物 分子量 装置
【主权项】:
1.分子和高分子的直接质量分析的装置,它包括:用于产生包括分子和高分子在内的被分析物的电喷雾滴的电喷雾产生器,该电喷雾产生器包括与飞行时间质谱仪藕联的用于气相被分析物离子的电荷减少的离子化源,以进行被分析物的直接质量分析。
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