[发明专利]高阶合成方法和高阶合成装置无效
申请号: | 200410100625.1 | 申请日: | 2004-12-06 |
公开(公告)号: | CN1624698A | 公开(公告)日: | 2005-06-08 |
发明(设计)人: | 服部大;小川修;黑川圭一 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明揭示一种高阶合成方法和高阶合成装置,其中首先,在行为级电路中描述的变量的引用数目被计算。然后,该变量的位宽被提取,且多个能够以所提取的位宽进行数据转移的存储器被选择。其次,当变量被分配至其中时,基于所以数目和变量的位宽,多个存储器中的每个存储器的存取频率和被计算。最后,作为分配变量的目标,最小化存储器所计算的存取频率和的存储器被选择。 | ||
搜索关键词: | 合成 方法 装置 | ||
【主权项】:
1、一种高阶合成方法,通过所述方法,行为级电路中所描述的变量被分配至存储器中以生成逻辑电路,所述方法包括如下步骤:(a)计算行为级电路中变量引用数目;(b)提取变量的位宽并选择多个能够以所述提取的位宽进行数据转移的变量;(c)当变量分配到在步骤(b)中所选的多个存储器时,计算所述存储器的每一个的存取频率之和,基于所述变量的引用数目和位宽执行所述计算;以及(d)选择最小化步骤(c)中计算的存储器存取频率之和的存储器作为分配所述变量的目标。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410100625.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电气连接箱
- 下一篇:用泵搅拌器系统输入能量来催化解聚废料中的柴油