[发明专利]非挥发性内存及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200410101205.5 申请日: 2004-12-15
公开(公告)号: CN1790677A 公开(公告)日: 2006-06-21
发明(设计)人: 赖二琨;吕函庭;施彦豪;何家骅 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L21/8246 分类号: H01L21/8246;H01L21/8247;H01L21/70;H01L21/10;H01L27/10;H01L27/112;H01L27/115
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 王学强
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种非挥发性内存,此内存包括基底、介电层、导体层、隔离层、埋入式位线、穿隧介电层、电荷陷入层、阻挡介电层与字符线。其中,介电层配置于基底上,导体层配置于介电层上,而隔离层配置于基底上,且隔离层与导体层以及介电层相邻。另外,埋入式位线配置于基底中,且位于隔离层下方。其中,穿隧介电层配置于基底上以及导体层与隔离层的侧壁,电荷陷入层配置于穿隧介电层上,阻挡介电层配置于电荷陷入层上。另外,字符线配置于基底上,且字符线与埋入式位线彼此交错。
搜索关键词: 挥发性 内存 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种非挥发性内存的制造方法,其特征在于:包括:提供一基底,在该基底上依序形成一介电层、一导体层与一掩模层;图案化该掩模层、该导体层与介电层,以形成暴露出该基底的多数个第一开口;在各个这些第一开口底部的基底中形成一埋入式位线;在该基底上形成一隔离层于这些第一开口;删除部分隔离层,并以剩余的隔离层为掩模以形成多数个第二开口;删除掩模层与覆盖掩模层的隔离层;在该基底上依序形成一穿隧介电层、一电荷陷入层与一阻挡介电层,共形的覆盖这些第二开口、隔离层与导体层;在这些第二开口中填入一材料层;删除未被该材料层覆盖的部分穿隧介电层、电荷陷入层与阻挡介电层;删除材料层;以及在该基底上形成一字符线。
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