[发明专利]具有定位记号的发光二极管装置无效

专利信息
申请号: 200410102455.0 申请日: 2004-12-23
公开(公告)号: CN1797796A 公开(公告)日: 2006-07-05
发明(设计)人: 王瑞瑜;方博仁;洪详竣;苏崇智 申请(专利权)人: 南亚光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 代理人: 孙皓晨;贺华廉
地址: 中国*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种具有定位记号的发光二极管装置,主要是在发光二极管的晶粒制程中,设计两相对的对位标志,该两对位标志设于晶粒同一金属平面上,且两对位标志可以角对角或角对边或边对边的方式设置。由于两对位标志设于晶粒的同一金属平面,其表面粗糙度相近,如此可易于制程设备辨别,而能有效的选取晶粒,大幅减少异常状况的发生,进而可提升整体的产能及优良率。
搜索关键词: 具有 定位 记号 发光二极管 装置
【主权项】:
1、一种具有定位记号的发光二极管装置,该发光二极管的晶粒具有一透光基板,且透光基板上形成一半导体堆栈结构,其中半导体堆栈结构具有n型的氮化镓(n-GaN)半导体层与p型的氮化镓(p-GaN)半导体层,且半导体堆栈结构具有外漏且分别与n型的氮化镓(n-GaN)半导体层及p型的氮化镓(p-GaN)半导体层相互导通的N极金属垫及P极金属垫,其特征在于;晶粒的金属平面上形成有一定位装置,该定位装置具有两相对的对位标志,该两对位标志位于晶粒的同一金属平面上,且该金属平面的粗糙度相近,使两对位标志的表面粗糙度亦为相近。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南亚光电股份有限公司,未经南亚光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410102455.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top