[发明专利]具有定位记号的发光二极管装置无效
申请号: | 200410102455.0 | 申请日: | 2004-12-23 |
公开(公告)号: | CN1797796A | 公开(公告)日: | 2006-07-05 |
发明(设计)人: | 王瑞瑜;方博仁;洪详竣;苏崇智 | 申请(专利权)人: | 南亚光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 孙皓晨;贺华廉 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种具有定位记号的发光二极管装置,主要是在发光二极管的晶粒制程中,设计两相对的对位标志,该两对位标志设于晶粒同一金属平面上,且两对位标志可以角对角或角对边或边对边的方式设置。由于两对位标志设于晶粒的同一金属平面,其表面粗糙度相近,如此可易于制程设备辨别,而能有效的选取晶粒,大幅减少异常状况的发生,进而可提升整体的产能及优良率。 | ||
搜索关键词: | 具有 定位 记号 发光二极管 装置 | ||
【主权项】:
1、一种具有定位记号的发光二极管装置,该发光二极管的晶粒具有一透光基板,且透光基板上形成一半导体堆栈结构,其中半导体堆栈结构具有n型的氮化镓(n-GaN)半导体层与p型的氮化镓(p-GaN)半导体层,且半导体堆栈结构具有外漏且分别与n型的氮化镓(n-GaN)半导体层及p型的氮化镓(p-GaN)半导体层相互导通的N极金属垫及P极金属垫,其特征在于;晶粒的金属平面上形成有一定位装置,该定位装置具有两相对的对位标志,该两对位标志位于晶粒的同一金属平面上,且该金属平面的粗糙度相近,使两对位标志的表面粗糙度亦为相近。
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