[发明专利]TFT阵列及其试验方法、试验装置无效
| 申请号： | 200410102523.3 | 申请日： | 2004-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN1661378A | 公开（公告）日： | 2005-08-31 |
| 发明（设计）人： | 田岛佳代子 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R31/26;G09G3/30 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王允方;刘国伟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种TFT阵列及其试验装置，其可于电流拷贝型像素中，在接近实际使用状态的状态下，测定驱动用晶体管的电流量且试验像素是否存在缺陷。上述问题可通过一种像素的TFT阵列而解决，其特征在于含有像素，该像素包含控制电流量的晶体管、连接于上述晶体管的栅极端子与源极端子之间的电容器、连接于上述晶体管的栅极端子与漏极端子之间的第一开关、实行上述第一开关的控制的第一控制线、一端连接于上述晶体管的漏极端子的第二开关，以及实行上述第二开关的控制的第二控制线。 | ||
| 搜索关键词： | tft 阵列 及其 试验 方法 试验装置 | ||
【主权项】：
1.一种TFT阵列，其特征在于含有像素，该像素包含晶体管，其控制电流量，电容器，其连接于上述晶体管的栅极端子与源极端子之间，第一开关，其连接于上述晶体管的栅极端子与漏极端子之间，第一控制线，其实行上述第一开关的控制，第二开关，其一端连接于上述晶体管的漏极端子，以及第二控制线，其实行上述第二开关的控制。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安捷伦科技公司，未经安捷伦科技公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200410102523.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：探针卡
- 下一篇：悬吊式气闸装置、吸引式和气流混合吸引式粉粒体收集器
