[发明专利]CMOS图像传感器以及用于制作它的方法无效
申请号: | 200410103617.2 | 申请日: | 2004-12-29 |
公开(公告)号: | CN1747175A | 公开(公告)日: | 2006-03-15 |
发明(设计)人: | 黄儁 | 申请(专利权)人: | 东部亚南半导体株式会社 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王学强 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器和其制造方法被公开。在一个实例中,所述方法包括在具有其上限定有活性区和器件分割区的p型半导体基片上形成至少第一垫层和第二垫层;去除在器件分割区上的第一垫层和第二垫层,以便于暴露p型半导体层,以及选择性去除已暴露的p型半导体层,由此形成沟槽;在沟槽内壁上所形成的p型半导体基片的部分上形成第一p型杂质区,从而在p型半导体基片的整个表面上形成器件分割绝缘层,以便于充填沟槽;去除器件分割绝缘层,以便于器件分割绝缘层仅保留在沟槽中,并且去除第二垫层;以及向活性区注入n型杂质离子,由此形成光电二极管区。 | ||
搜索关键词: | cmos 图像传感器 以及 用于 制作 方法 | ||
【主权项】:
1.一种互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器,包括:具有其上限定器件分割区和活性区的半导体基片,;具有由p型杂质区所覆盖的所述半导体基片的所述活性区以及根据光的亮度产生光电荷的光电二极管;以及形成在光电二极管的垂直线上的滤色层和微透镜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东部亚南半导体株式会社,未经东部亚南半导体株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410103617.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的