[发明专利]分光特性测定装置及方法无效
| 申请号： | 200410103653.9 | 申请日： | 2004-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN1637402A | 公开（公告）日： | 2005-07-13 |
| 发明（设计）人： | 柳英一 | 申请（专利权）人： | 株式会社拓普康 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01M11/00;G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明是关于一种分光特性测定装置及方法，该装置是一种能够防止因温度变化所造成的测定精确度的下降的分光特性测定装置。该装置为一种具有向被检测透镜照射测定光的光源、用于将被检测透镜保持在测定位置的透镜配置部、将透过了测定位置所保持的被检测透镜的测定光进行分光的分光元件、接受被分光的测定光并检测每一波长成分的光量值的受光元件，且根据由所检测的光量值得到的光谱而求被检测透镜的分光特性的分光特性测定装置；具备将测定光的发光光谱预先进行存储的存储部、使被检测透镜从测定位置转移，并检测所测定的测定光的发光光谱对前述所存储的发光光谱的位移量，且根据所检测的位移量对被检测透镜的分光特性进行修正的控制部。 | ||
| 搜索关键词： | 分光 特性 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种分光特性测定装置，为具有向试件照射测定光的光源、用于将前述试件保持在测定位置的试件配置部、将透过了前述测定位置所保持的前述试件的前述测定光进行分光的分光元件、接受前述被分光的测定光并检测每一定波长成分的光量值的受光元件，且根据由所检测的前述光量值所得到的光谱而求前述试件的分光特性的分光特性测定装置；其特征在于：具备一种修正装置，预先存储前述测定光的发光光谱，并使前述试件从前述测定位置转移，对所测定的前述测定光的发光光谱相对于前述所存储的发光光谱的位移量进行检测，且根据所检测的前述位移量而对前述试件的分光特性进行修正。
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