[发明专利]光盘装置、存取方法、程序和半导体集成电路无效

专利信息
申请号: 200410103771.X 申请日: 2004-10-15
公开(公告)号: CN1674109A 公开(公告)日: 2005-09-28
发明(设计)人: 中尾政仁;桥本清一 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G11B7/004;G11B7/09
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张雪梅;张志醒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供有一种用于对具有至少一个轨迹的光盘进行存取的光盘装置,其中在所述至少一个轨迹中提供有至少一个预制凹坑。所述装置包括:一光照射部分,用于以光照射所述至少一个轨迹;一第一信号产生部分,用于检测从所述至少一个轨迹反射的光,并根据所述反射的光,产生包括表示所述至少一个预制凹坑的预制凹坑信号的第一信号;一第二信号产生部分,用于从所述第一信号除去阻止检测所述预制凹坑信号的信号分量以产生一第二信号;和一预制凹坑检测部分,用于根据所述第一信号和第二信号中的至少一个检测所述至少一个预制凹坑。
搜索关键词: 光盘 装置 存取 方法 程序 半导体 集成电路
【主权项】:
1.一种用于对具有至少一个轨迹的光盘进行访问的光盘装置,其中在所述至少一个轨迹中提供有至少一个预制凹坑,所述装置包括:一光照射部分,用于以光照射所述至少一个轨迹;一第一信号产生部分,用于检测从所述至少一个轨迹反射的光,并根据所述反射的光,产生包括表示所述至少一个预制凹坑的预制凹坑信号的第一信号;一第二信号产生部分,用于从所述第一信号除去阻止检测所述预制凹坑信号的信号分量以产生一第二信号;和一预制凹坑检测部分,用于根据所述第一信号和第二信号中的至少一个检测所述至少一个预制凹坑。
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