[发明专利]薄膜磁头的制造方法无效

专利信息
申请号: 200410104673.8 申请日: 2002-08-30
公开(公告)号: CN1645479A 公开(公告)日: 2005-07-27
发明(设计)人: 工藤一惠;冈田泰行;府山盛明;丸山洋治;及川玄 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G11B5/31 分类号: G11B5/31
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 陈昕
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 薄膜磁头的制造方法,该薄膜磁头具有下部磁极、与下部磁极相对设置的上部磁极和在上、下部磁极之间设置的磁间隙膜,其特征是在磁间隙膜上,由溅镀法成膜含有Co、Ni、Fe为10≤Co≤80重量%、0≤Ni≤25重量%和15≤Fe≤90重量%的第1磁性膜、而且在第1磁性膜上由电镀法成膜含有Co、Ni、Fe为10≤Co≤80重量%、0≤Ni≤25重量%和15≤Fe≤90重量%的第2磁性膜而形成的上部磁极。
搜索关键词: 薄膜 磁头 制造 方法
【主权项】:
1.薄膜磁头的制造方法,该薄膜磁头具有下部磁极、与下部磁极相对设置的上部磁极和在上、下部磁极之间设置的磁间隙膜,其特征是在磁间隙膜上,由溅镀法成膜含有Co、Ni、Fe为10≤Co≤80重量%、0≤Ni≤25重量%和15≤Fe≤90重量%的第1磁性膜、而且在第1磁性膜上由电镀法成膜含有Co、Ni、Fe为10≤Co≤80重量%、0≤Ni≤25重量%和15≤Fe≤90重量%的第2磁性膜而形成的上部磁极。
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