[发明专利]交联聚合物、有机抗反射涂层组合物及形成光刻胶图案的方法无效
申请号: | 200410104922.3 | 申请日: | 2004-12-24 |
公开(公告)号: | CN1637601A | 公开(公告)日: | 2005-07-13 |
发明(设计)人: | 郑载昌;卜喆圭;文承灿;申起秀 | 申请(专利权)人: | 海力士半导体有限公司 |
主分类号: | G03F7/027 | 分类号: | G03F7/027;G03F7/004;G03F7/20;H01L21/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 封新琴;巫肖南 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明披露一种用于有机抗反射涂层的交联聚合物,其可用于半导体器件制造过程中通过使用波长为194nm的ArF光源,改进有关用于光刻法的超细图案形成过程中形成的光刻胶图案的均匀性;一种包括该聚合物的有机抗反射涂层组合物;及一种使用该组合物形成光刻胶图案的方法。用于有机抗反射涂层的交联聚合物,其能够轻易地移除该有机抗反射涂层,其防止底部薄膜层的漫反射且消除由于光刻胶薄膜本身的厚度的改变所引起的驻波效应以使该光刻胶图案的均匀性增加,且同时增加该有机抗反射涂层的蚀刻速度,因而允许该有机抗反射涂层被轻易地移除;及一种含有该交联聚合物的有机抗反射涂层组合物。 | ||
搜索关键词: | 交联 聚合物 有机 反射 涂层 组合 形成 光刻 图案 方法 | ||
【主权项】:
1.一种交联聚合物,其具有由式3所代表的结构及介于2,000-100,000范围内的重均分子量;式3
其中,R1、R1′、R2及R2′各自代表具有支链或直链取代的C1-C10的烷基;R3代表氢或甲基;且a及b各自代表相应单体的摩尔百分数,a为0.9-0.99而b为0.01-0.1。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海力士半导体有限公司,未经海力士半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410104922.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。